Specialista RAM-T e LSA | Studi affidabilità
Salva questo lavoro e mantieni la tua ricerca organizzata
Crea un account gratuito per salvare lavori, creare avvisi e tornare a questa inserzione dalla tua dashboard.
Leonardo cerca una risorsa per l'unità RAM-T Studies della Electronics Division, sede di Firenze Campi Bisenzio. Il profilo collaborerà con il team di prodotto per definire e dimostrare i requisiti di qualità del sistema, con focus su MTBF, MTBCF, MTTR.
Richiesta laurea magistrale in ingegneria, conoscenza RAMT e LSA, inglese B2, competenze Matlab e strumenti di analisi affidabilità. Contratto a tempo indeterminato, lavoro ibrido, retribuzione 36.5–50k €/anno.
-
Specialista RAM-T e LSA | Studi affidabilità
2 giorni fa
campi bisenzio, toscana, Italia leonardocompany Tempo pieno 50 € ContrattoLeonardo cerca una risorsa per l’unità RAM-T Studies della Electronics Division, sede di Firenze Campi Bisenzio. Il profilo collaborerà con il team di prodotto per definire e dimostrare i requisiti di qualità del sistema, con focus su MTBF, MTBCF, MTTR. Richiesta laurea magistrale in ingegneria, conoscenza RAMT e LSA, inglese B2, competenze Matlab e...
-
Specialista RAM-T e LSA | Studi affidabilità
1 giorno fa
Campi Bisenzio (FI), Provincia di Firenze; Toscana, Italia Altro Tempo pienoLeonardo cerca una risorsa per l'unità RAM-T Studies della Electronics Division, sede di Firenze Campi Bisenzio. Il profilo collaborerà con il team di prodotto per definire e dimostrare i requisiti di qualità del sistema, con focus su MTBF, MTBCF, MTTR. Richiesta laurea magistrale in ingegneria, conoscenza RAMT e LSA, inglese B2,...
-
Campi Bisenzio, Tuscany, Italia leonardocompany Tempo pienoLeonardo cerca una risorsa per l’unità RAM-T Studies della Electronics Division, sede di Firenze Campi Bisenzio.Interessato/a a questo ruolo? Può trovare tutte le informazioni pertinenti nella descrizione qui sotto.Il profilo collaborerà con il team di prodotto per definire e dimostrare i requisiti di qualità del sistema, con focus su MTBF, MTBCF,...
